通過調整配方將居里點尖峰移至室溫附近的高K介質在25℃時展現出極高的介電常數,但同時,不管是升溫還是降溫,K值都會出現非常大的變化。而低K介質,其配方系統使得居里尖峰被壓低和寬化,因此能如人們所希望的那樣表現出更佳的穩定性。
通過調整配方將居里點尖峰移至室溫附近的高K介質在25℃時展現出極高的介電常數,但同時,不管是升溫還是降溫,K值都會出現非常大的變化。而低K介質,其配方系統使得居里尖峰被壓低和寬化,因此能如人們所希望的那樣表現出更佳的穩定性。
絕緣體的原子結構中沒有在外電場強度作用下能自由移動的電子。對于陶瓷介質,其電子被離子鍵和共價鍵牢牢束縛住,理論上幾乎可以定義該材料的電阻率為無窮大。但是實際上絕緣體的電阻率是有限,并非無窮大,這是因為材料原子晶體結構中存在的雜質和缺陷會導致電荷載流子的出現。
絕緣體的原子結構中沒有在外電場強度作用下能自由移動的電子。對于陶瓷介質,其電子被離子鍵和共價鍵牢牢束縛住,理論上幾乎可以定義該材料的電阻率為無窮大。但是實際上絕緣體的電阻率是有限,并非無窮大,這是因為材料原子晶體結構中存在的雜質和缺陷會導致電荷載流子的出現。
在這種“多層”結構中,由于多層電極的平行排列以及在相對電極間的介質層非常薄,電極面積A得以大大增加,因此電容量C會隨著因子N(介質層數)的增加和介質層厚度t’的減小而增大。這里A’指的是交迭電極的重合面積。
在這種“多層”結構中,由于多層電極的平行排列以及在相對電極間的介質層非常薄,電極面積A得以大大增加,因此電容量C會隨著因子N(介質層數)的增加和介質層厚度t’的減小而增大。這里A’指的是交迭電極的重合面積。
介質材料使用的頻率范圍對其極化機制有顯著影響,主要是對材料隨交流電場反轉的極化“弛豫”過程或時間延遲而言。瞬時極化過程弛豫時間短,延時極化過程弛豫時間長。在組成陶瓷介質的原子和離子中,后者所引起的介質損耗更大。當外電場頻率與弛豫過程的時間周期同步時,損耗值最大。簡而言之,當弛豫時間與外電場周期相差很大時損耗則很?。?/article>
介質材料使用的頻率范圍對其極化機制有顯著影響,主要是對材料隨交流電場反轉的極化“弛豫”過程或時間延遲而言。瞬時極化過程弛豫時間短,延時極化過程弛豫時間長。在組成陶瓷介質的原子和離子中,后者所引起的介質損耗更大。當外電場頻率與弛豫過程的時間周期同步時,損耗值最大。簡而言之,當弛豫時間與外電場周期相差很大時損耗則很?。?/article>
評估高頻貼片電容器的一個重要性能指標是品質因素Q,或者是與其相關的等效串聯電阻(ESR)。本公司除了提供性能卓越的射頻RF元器件外,還致力于為客戶提供精確和完整的性能數據。為了達到這個目標,這篇文章里我們詳細的討論Q和ESR的測量方法和理解。
評估高頻貼片電容器的一個重要性能指標是品質因素Q,或者是與其相關的等效串聯電阻(ESR)。本公司除了提供性能卓越的射頻RF元器件外,還致力于為客戶提供精確和完整的性能數據。為了達到這個目標,這篇文章里我們詳細的討論Q和ESR的測量方法和理解。
這篇文章主要是討論多層陶瓷電容器的加載電流、功率損耗、工作電壓和最大額定電壓之間的關系。通過電容的最大電流主要是由最大額定電壓和最大功率損耗限制的。電容的容值和工作頻率又決定了它們兩個中哪個是處于主要的支配地位的。對于在給出頻率下一個較低容值的電容或者是一個給出電容在較低的頻率下工作,它們的最高電壓極限一般都比最大功率損耗的極限到達快一些。
這篇文章主要是討論多層陶瓷電容器的加載電流、功率損耗、工作電壓和最大額定電壓之間的關系。通過電容的最大電流主要是由最大額定電壓和最大功率損耗限制的。電容的容值和工作頻率又決定了它們兩個中哪個是處于主要的支配地位的。對于在給出頻率下一個較低容值的電容或者是一個給出電容在較低的頻率下工作,它們的最高電壓極限一般都比最大功率損耗的極限到達快一些。